明导：如何找到最后1%的良率损失转鼓

　　作者：Geir Eide

　　对老花镜于医疗和汽车市场所用设备，您需要仔细寻找一切可能影响品质或者可靠性的问题。我们通常亲切地称为百分之一的集成电路产品是指那些已经生产了足够长时间、产量足够高，因此从产品生产成本的角度来看，值得想办法找出最后1%的良率损失。

　　全文要点

　　随着良率挑战数量的增加，许多无晶圆厂半导体公司采用了新技术，如诊断驱动的良率分析(diagnosis-driven yield analysis，DDYA)，该技术可以快速找到良率损失的根本原因，有效区分面向设计和面向工艺的良率损失问题。例如，Freescale使用1300个failing die的诊断分析结果在几周内将成熟良率提高了1.5%。诊断分析技术取得的新进步使 DDYA 比以往更具价值。

　　DDYA 有两个主要构成元钒铁素。首先，使用扫描诊断软件分析生产测试失败情况，根据设计描述、扫描测试图和测试仪故障数据找到缺陷位置和类别（图1）。